一种MCU芯片适配评估方法

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一种MCU芯片适配评估方法
申请号:CN202510750053
申请日期:2025-06-06
公开号:CN120276352B
公开日期:2025-09-02
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种MCU芯片适配评估方法。该方法包括:基于车辆控制器的各应用场景确定对应的MCU算力需求;基于计算要素对各MCU算力需求进行抽象,以构建各应用场景对应的MCU运算考核测试用例;基于各应用场景对MCU算力的需求占比确定各MCU运算考核测试用例的考核比例或权重,基于考核比例或权重将各测试用例组合,形成组合测试用例;基于组合测试用例对各MCU芯片分别进行MCU运算考核测试,得到各MCU芯片完成组合测试用例对应的典型算法的最少执行时间;基于最少执行时间,确定最适配的MCU芯片。本发明实现基于车辆控制器应用场景计算需求的MCU芯片算力适配性评估,可以降低MCU选型适配时间和费用成本。
技术关键词
组合测试用例 MCU芯片 芯片测试板 车辆控制器 信号发送单元 信号采集单元 处理单元 测试用例数据 典型 场景 算法 指令 通讯
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