对FPGA芯片的IOB进行测试的方法以及FPGA芯片

本申请实施例提供一种对FPGA芯片的IOB进行测试的方法以及FPGA芯片。所述FPGA芯片包括激励单元、检验单元以及测试电路，该方法包括：利用激励单元向测试电路输出激励信号；利用测试电路传输激励信号；利用检验单元对测试电路的末端输出端口输出的信号进行校验，以测试FPGA芯片的IOB。本申请实施例提供的技术方案，激励信号在测试电路所包括的环回上传输，模拟实际应用中信号在FPGA芯片内部的传输过程，可以有效验证FPGA芯片的IOB的性能，减小FPGA芯片的IOB发生电路功能受损以及传输的信号完整性受损等情况的发生概率，提高可靠性。