一种棒型磁芯有效磁导率低频分布的测量方法及装置

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一种棒型磁芯有效磁导率低频分布的测量方法及装置
申请号:CN202510759810
申请日期:2025-06-09
公开号:CN120686165A
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种棒型磁芯有效磁导率低频分布的测量方法及装置,涉及低频波动探测和应用技术领域。该方法包括:在线圈骨架上绕制测试线圈,测量测试线圈的绕制长度并记录绕制匝数;将测试磁芯插入测试线圈的不同位置,并测量测试线圈在测试磁芯处于不同位置的电感;根据磁导率‑电感关系式计算测试磁芯处于不同位置的区域平均有效磁导率;基于预设算法拟合测试磁芯的有效磁导率分布函数;根据测试磁芯的有效磁导率分布函数得出待测棒型铁基纳米晶合金磁芯的有效磁导率分布函数。本发明能够降低磁芯有效磁导率测量误差,提高建模可靠性,并得到有效磁导率分布函数,从而减少重复实验,提升建模效率。
技术关键词
测试磁芯 纳米晶合金磁芯 测试线圈 测量方法 电感 线圈骨架 初始磁导率 阻抗分析仪 算法 表达式 非金属材料 记录单元 测量误差 长径比 数据 方形 坐标系 横轴 接线
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