芯片功能验证方法、装置、硬件仿真设备及存储介质

本发明涉及芯片技术领域，提供一种芯片功能验证方法、装置、硬件仿真设备及存储介质。该方法包括：在每一轮的验证过程中，将随机数库中的每个随机数依次作为初始随机数；然后对初始随机数进行多次变异处理，得到多个变异随机数，以生成多个测试用例集；接着利用每个测试用例集进行功能验证，得到每个变异随机数的标签以及验证结果，并根据全部变异随机数的标签确定是否在随机数库中替换初始随机数；最后若验证结果达到预设条件，或者，若验证结果未达到预设条件且验证轮次达到预设次数，则结束芯片功能验证。从而提高了芯片功能验证的效率和覆盖范围。