缺陷样本生成方法、装置、存储介质及计算机设备

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缺陷样本生成方法、装置、存储介质及计算机设备
申请号:CN202510762140
申请日期:2025-06-09
公开号:CN120563967A
公开日期:2025-08-29
类型:发明专利
摘要
本申请提供的缺陷样本生成方法、装置、存储介质及计算机设备,首先获取缺陷文本描述,并确定缺陷生成模型,该缺陷生成模型包括文本编码模块和扩散模块,其中的文本编码模块是基于参数高效微调进行训练后得到的,扩散模块是基于特征定制化微调和参数高效微调进行训练后得到的。接着将缺陷文本描述输入至缺陷生成模型中,利用文本编码模块对缺陷文本描述进行优化,提高缺陷文本描述的准确性,为后续缺陷样本生成提供更精确的指导信息。并且由于扩散模块经过特征定制化微调,其能够学习到特定类别的缺陷特征表示,在利用扩散模块生成缺陷样本时可以针对特定需求进行调整。提高对缺陷类型和形态特征的控制能力,确保生成的缺陷样本的有效性和准确性。
技术关键词
样本生成方法 编码模块 文本特征向量 图像特征向量 文本编码器 计算机可读指令 参数 图文 计算机设备 噪声强度 图像多模态 标识符 图像编码器 处理器
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