代码缺陷的检测方法、电子设备、存储介质及程序产品

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代码缺陷的检测方法、电子设备、存储介质及程序产品
申请号:CN202510763031
申请日期:2025-06-09
公开号:CN120929350A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种代码缺陷的检测方法、电子设备、存储介质及程序产品,属于代码缺陷检测技术领域,用以提供代码缺陷的检测效率。所述方法包括:根据目标代码的提交信息,确定所述目标代码的特征信息;根据所述特征信息,确定所述目标代码的编码阶段;通过所述编码阶段对应的检测方式对所述目标代码进行缺陷检测。
技术关键词
复杂度 阶段 编码 高斯混合模型 代码缺陷检测 计算机程序产品 静态代码分析 格式化 可读存储介质 频率 电子设备 缺陷预测 指令 处理器 分析工具 非工作 存储器
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