评测子集选择方法、装置、电子设备及存储介质

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评测子集选择方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202510776365
申请日期:2025-06-11
公开号:CN120763013A
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种评测子集选择方法、装置、电子设备及存储介质,涉及模型评估技术领域。获取基准测试集的得分向量;从所述基准测试集中进行预设轮次的挑选处理,每轮挑选处理包括:从所述基准测试集中选取出备选评测子集,并计算所述备选评测子集与所述基准测试集在得分向量上的差异,得到备选差异;将所述备选差异减去本轮挑选处理中的参考差异,得到差异差值;基于所述差异差值,从所述上一轮挑选出的目标评测子集与所述备选评测子集中挑选出本轮的目标评测子集。从基准评测集中选取子集进行模型评估的方式,计算开销小、成本低;且利用多轮迭代挑选的目标评测子集的评测误差小。
技术关键词
基准 模型评估技术 电子设备 处理器 语义 可读存储介质 模块 数据 指令 存储器 计算机 因子 误差
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