测试系统、测试方法、电子设备及存储介质

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测试系统、测试方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202510779478
申请日期:2025-06-11
公开号:CN120723627A
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
本发明涉及测试技术领域,提供一种测试系统、测试方法、电子设备及存储介质,其中系统包括:虚拟机测试平台以及测试控制模块;测试控制模块用于判断虚拟机测试平台是否满足测试条件,在确定虚拟机测试平台满足测试条件的情况下,控制虚拟机测试平台执行针对目标软件的测试;虚拟机测试平台用于执行目标软件对应的目标测试用例集中未执行的测试用例,在确定执行任一测试用例的时长超过第一预设时长的情况下,执行目标测试用例集中任一测试用例的下一测试用例。本发明显著提高了软件测试的效率,提高了软件测试时计算资源的利用率,能更好地保证软件测试流程的连续性和完整性,能够在保障测试覆盖率的同时,缩短测试周期并增强了测试结果的可靠性。
技术关键词
测试平台 虚拟机控制 虚拟机监控 控制模块 进程 测试方法 加密 非暂态计算机可读存储介质 控制虚拟机 测试覆盖率 电子设备 处理器 计算机程序产品 模拟器 存储器 连续性 周期
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