一种半导体激光器寿命预估方法及系统

本发明涉及一种半导体激光器寿命预估方法，包括以下步骤，对所述半导体激光器进行光电特性测量，得到光电特性参数集；基于所述光电特性参数集对所述半导体激光器进行应力分析，得到器件应力特征谱；基于所述器件应力特征谱对半导体激光器进行缺陷演化分析，得到缺陷扩展特征图；基于所述缺陷扩展特征图对所述半导体激光器进行性能衰减模拟，得到性能衰减轨迹曲线；基于所述性能衰减轨迹曲线对半导体激光器进行寿命评估，得到寿命预估结果解决了传统的寿命评估方法主要依赖于加速老化实验和统计模型，虽然能够在一定程度上反映器件的老化趋势，但往往周期长、成本高，且难以揭示器件内部失效机制的本质过程的技术问题。