多芯片连接结构的制备方法

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多芯片连接结构的制备方法
申请号:CN202510779783
申请日期:2025-06-12
公开号:CN120356830B
公开日期:2025-09-19
类型:发明专利
摘要
本发明属于芯片技术领域,具体涉及多芯片连接结构的制备方法。步骤:在基材上涂覆释放层和粘合层;芯片上有铜柱凸点,芯片临时键合在粘合层上,控制部分的铜柱凸点嵌入粘合层;在粘合层上形成塑封层,塑封层包裹芯片和剩余部分的铜柱凸点,芯片和塑封层共同构成模块一;剥离粘合层,嵌入粘合层的铜柱凸点暴露在外,在模块一有铜柱凸点的那一面沉积非金属介质材料修饰铜柱凸点,铜柱凸点两侧不再暴露,将铜柱凸点剩余的暴露面与TSV中介层进行铜‑铜键合;去除TSV中介层多余的硅衬底,得到模块二,在模块二底部构建完整的RDL层,在完整的RDL层表面制作凸块。本发明提高了制备多芯片连接结构的焊接可靠性、信号完整性、散热性能。
技术关键词
铜柱凸点 芯片连接结构 中介层 导电线路 多芯片 二氧化硅 光刻胶层 活性稀释剂 模塑料 金属材料 双酚F型环氧树脂 非金属 硅氧烷低聚物 刻蚀工艺 剥离光刻胶 硅衬底表面 模块 衬底上制作
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