基于RDL工艺的射频集成电容结构及制备方法

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基于RDL工艺的射频集成电容结构及制备方法
申请号:CN202510780937
申请日期:2025-06-11
公开号:CN120659340A
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本发明涉及射频集成电路与先进半导体封装技术领域,尤其涉及基于RDL工艺的射频集成电容结构及制备方法,包括衬底、复合介电层、温度传感器、信号处理模块及补偿模块。复合介电层由氮化硅与氧化铝交替堆叠构成,电极轮廓通过三维电磁场仿真生成弧形曲率半径与侧壁倾角参数,机器学习模型基于漏电流实测数据优化掩模设计与刻蚀工艺参数,降低边缘漏电流密度。各模块通过RDL工艺实现高密度互连,兼容现有封装流程,系统性解决射频电路中电容温度系数不可控导致的相位同步误差与高频信号失真问题。
技术关键词
集成电容结构 铂薄膜温度传感器 信号处理模块 复合介电层 三维电磁场 微控制器单元 电容极板 光刻掩模 原位红外光谱分析 电容单元 非晶态结构 射频 氮化硅 电极 多项式拟合算法 氧化铝 光刻胶残留物 电容温度系数 金属互连 电压
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