一种基于多形态BISR链的存储修复系统

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一种基于多形态BISR链的存储修复系统
申请号:CN202510782927
申请日期:2025-06-12
公开号:CN120299498B
公开日期:2025-08-22
类型:发明专利
摘要
本申请涉及集成电路修复技术领域,特别是涉及一种基于多形态BISR链的存储修复系统,该系统将芯片中的存储单元划分到多个修复模块中,由各个修复模块分别包含的若干个片外寄存器形成多个第一片外寄存器链,在对芯片中的存储单元进行修复时,可以通过多个第一片外寄存器链同时进行修复,使得芯片存储单元的修复时长根据各个第一片外寄存器链的最大链长确定,相较于现有技术中芯片存储单元的修复时长根据所有片外寄存器的链长之和确定,极大减少了存储修复时间,进而提高了存储修复效率,且在存储修复过程中,存储单元可以采用并行修复方式或者串行修复方式,存储修复能够兼容不同修复类型的存储单元。
技术关键词
修复系统 多形态 非易失存储器 芯片存储单元 模块 输入端 输出端 控制单元 时钟 计数器 修复技术 端口 数据 集成电路 信号 周期
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