盲元检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

本公开提供了一种盲元检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，属于电子元器件检测技术领域，该盲元检测方法包括：在向待测元器件施加不同电压的情况下，获取不同电压下的电流响应特征；获取待测元器件在预设强度的光均匀照射下的连续的多帧图像；根据连续的多帧图像，确定待测元器件的光学响应特征与热学响应特征；根据电流响应特征、光学响应特征与热学响应特征，确定待测元器件中的目标盲元。能够准确地检测出电子元器件中的盲元。