一种适用于边界扫描的电容开短路测试架构、方法及平台

本发明公开了一种适用于边界扫描的电容开短路测试架构、方法及平台，本发明通过架构包括的模拟测试卡单元，以及分别与所述模拟测试卡单元电性连接的待测板单元、边界扫描控制器单元；所述边界扫描控制器单元用于提供时钟驱动信号TCK、状态驱动信号TMS、数据驱动信号TDI、数据接收信号TDO和驱动信号DO3；所述边界扫描控制器单元的TCK、TMS、TDI引脚分别连接到所述待测板单元中第一BS芯片的JTAG时钟接收TCK1、状态接收TMS1、数据接收TDI1引脚；以及与所述架构相对应的方法、平台，无论是否支持IEEE 1149.6协议，都能通过IEEE 1149.1协议达到耦合电容连接关系的开短路可测目的，提升测试覆盖率，降低测试的设计成本。