一种芯片验证方法、装置、设备及存储介质

本发明提供了一种芯片验证方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片验证技术领域，包括：确定待验证芯片对应的静态时序分析结果；根据所述静态时序分析结果，从所述待验证芯片对应的时序路径中确定时序余量符合预设时序余量条件的若干目标时序路径；基于所述目标时序路径，并结合预设验证策略对所述待验证芯片执行验证操作；所述预设验证策略为基于低功耗验证、门级仿真验证和接口验证构建的验证策略。这样一来，本申请可根据静态时序分析结果，时序余量筛选出目标时序路径，基于目标时序路径可对待验证芯片进行针对性的验证操作，提升芯片验证效率；并且结合多种验证策略进行芯片验证，可进一步提高芯片验证效果。