一种基于可见-近红外高光谱与GLCM纹理特征融合的枯茗子缺陷粒SVM检测方法

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一种基于可见-近红外高光谱与GLCM纹理特征融合的枯茗子缺陷粒SVM检测方法
申请号:CN202510793065
申请日期:2025-06-13
公开号:CN120489997A
公开日期:2025-08-15
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于可见‑近红外高光谱与GLCM纹理特征融合的枯茗子缺陷粒SVM检测方法,方法包括:以人工选制的枯茗子霉变粒、热受损粒和正常颗粒为研究对象,通过可见高光谱成像系统采集标准化样本数据,通过连续投影算法筛选关键特征波段,从440个波长筛选264个特征,剔除了光谱数据中的冗余信息和干扰因素,然后通过灰度共生矩阵GLCM提取9类纹理特征,并将双模态数据手动拼接融合构建双通道数据集,通过构建SVMDA分类,实现缺陷分类准确率94.44%,较传统方法提升8%。丰富了数据集模态,使多模态特征有效结合,从而实现枯茗子的高效筛选分类,同时也为光谱数据的处理和提高模型精确度提供了新的解决思路。
技术关键词
纹理特征 灰度共生矩阵 高光谱成像系统 连续投影算法 数据 样本 SVM分类 成像光谱仪 波长 分类准确率 热风烘箱 阈值算法 模态特征 冗余 双模态 滑动窗口 移动平台 图像 黑曲霉
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