一种可自动控制并监督芯片功能的方法和系统

本申请提供公开了一种可自动控制并监督芯片功能的方法和系统，涉及机器视觉检测领域，尤其适用于芯片模组在复杂应用环境下的功能性检测与主动保护。本发明的可自动控制并监督芯片功能的方法具体包括：将芯片模组置于温箱中并进行测试线路连接；基于芯片模组中的每个元件位置信息分别指导温箱进行局部升温，得到所有元件的温度‑位置影响红外图像集；启动检测，并获取芯片模组的原始红外时序图像序列；基于每个元件位置的温度‑位置影响红外图集以及原始红外时序图像序列中的环境温度，修正原始红外时序图像序列，得到芯片模组的自身产热红外时序图像序列；基于时序模型对自身产热红外时序图像序列中的元件进行产热监督。通过上述步骤，本发明准确地反映芯片元件自身的功能性变化，有效剥离环境和其他元件的干扰，极大提升了芯片健康监测的准确性。