芯片设计的性能分析方法、装置、相关设备及程序

本发明实施例提供一种芯片设计的性能分析方法、装置、相关设备及程序。所述芯片设计的性能分析方法包括：获取芯片设计的仿真数据；所述仿真数据包括所述芯片设计中，各个设计模块在不同测试场景下仿真结束后得到的交互信息；对所述交互信息进行处理，生成每个测试场景下，芯片设计中各个设计模块的性能测试值；利用测试场景下的性能理论值对所述性能测试值进行比对，得到性能分析结果。本发明实施例提供的技术方案避免在芯片设计发生变更，导致芯片设计的拓扑结构或传输协议发生变化时，修改仿真过程中的性能分析程序，减少对性能分析程序的修改，从而减少芯片设计的性能分析方法的时间和人力资源投入，提高芯片设计的性能分析方法的效率。