基于边缘计算的PCB缺陷检测方法、装置、设备及介质

本发明涉及PCB缺陷检测技术领域，公开了一种基于边缘计算的PCB缺陷检测方法、装置、设备及介质，方法包括：响应颜色传感器信号，通过PID算法控制伺服电机将PCB精确定位于工业相机视场中心；边缘计算微服务器执行图像预处理；利用RepVGG模块优化的轻量化YOLO模型提取多尺度特征；融合特征图识别缺陷；由解耦检测头输出缺陷位置/类别，经非极大值抑制生成缺陷图谱；根据缺陷图谱生成相应的缺陷文本内容输入大语言模型生成语义化分析报告及分拣指令。该方法通过光学结构创新与边缘智能决策的协同，实现检测效率提升且误检率降低，显著减少人工复检成本。