玉米果穗表型参数测量方法、系统、拍摄方法及装置

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玉米果穗表型参数测量方法、系统、拍摄方法及装置
申请号:CN202510811453
申请日期:2025-06-18
公开号:CN120339274B
公开日期:2025-09-02
类型:发明专利
摘要
玉米果穗表型参数测量方法、系统、拍摄方法及装置,涉及农业科技和计算机视觉交叉技术领域,解决了现有技术缺少高效、精准、自动化的综合玉米果穗表型参数测量方法的问题。搭建玉米果穗拍摄装置,获得玉米果穗多角度二维图像;对玉米果穗多角度二维图像进行处理,获得玉米果穗二维表型参数;对玉米果穗进行三维重建,获得玉米果穗三维重建影像;基于改进的PointNet++模型对玉米果穗三维重建影像进行玉米果穗缺陷检测,获得玉米果穗缺陷分类结果;完成对玉米果穗表型参数的测量,生成玉米果穗表型参数数据报告。本发明用于实现高效、精准、自动化的综合玉米果穗表型参数测量。
技术关键词
玉米果穗 多角度二维图像 参数测量方法 结构化网格 拍摄装置 计算机视觉交叉技术 编码模块 输出特征 网格模型 影像 稠密点云 生成稀疏点云 轮廓信息 籽粒计数 报告 搭建模块 拍摄模块
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