一种发光物体光谱参数测量系统与方法

本申请涉及半导体光电检测技术领域，尤其公开了一种发光物体光谱参数测量系统和方法，解决传统的测量方案要求光谱特性曲线的比值没有重复值且测量范围较窄的技术问题。测量系统光学系统，用于接收发光物体发出的自发光并成像至成像面，形成自发光的光学像；多波段图像采集模块，设置于成像面的光路上，包含至少三个具有不同透射波段特性的滤光单元，每个滤光单元用于透射光学像中特定波段的光，多波段图像采集模块通过各滤光单元分别对光学像中对应透射波段的光进行采集，得到自发光在不同波段的多通道图像数据；其中，多通道图像数据用于输入至预设的映射函数，以拟合计算得到发光物体的光谱参数。