电化铝薄膜的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

本申请提供了电化铝薄膜的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，包括：基于超高亮线形蓝光对多个待检测电化铝薄膜进行照射，并基于工业相机对照射后的每个所述待检测电化铝薄膜的图像进行实时采集；对每个所述图像进行图像预处理，确定出预处理后的所述图像；将每个预处理后的所述图像进行处理进程分配，基于缺陷检测模型对至少一个处理进程之中的预处理后的所述图像进行缺陷检测处理以及缺陷类型分类处理，输出每个所述待检测电化铝薄膜的缺陷类型。通过超高亮线形蓝光使电化铝薄膜的缺陷的对比度提高，有效提升了缺陷检出率，并且利用利用缺陷检测模型进行缺陷检测处理以及缺陷类型分类处理，可以快速准确地确定出电化铝薄膜的缺陷类型。