基于超薄触控开关彩膜的性能测试方法及系统

本发明涉及性能测试相关技术领域，具体包括基于超薄触控开关彩膜的性能测试方法及系统，包括：配置电性能测试参数连接信号发生器与示波器，引入触控及力度数据，分析寄生电容扰动信号与时频相关性，确定干扰强度与时延，关联物理缺陷类型映射失效路径生成提醒信号。解决了单点测试手段对寄生电容扰动信号的分析能力有限，无法精确把握信号干扰特征的技术问题，实现了通过构建材料参数驱动的电性能测试参数自适应配置，能根据不同彩膜材料特性自动调整测试参数，提升测试准确性与有效性，同时，突破传统单点测试局限，精准量化信号干扰特征，深入了解信号干扰情况，并结合失效机理分析，快速定位故障根源，降低故障发生概率的技术效果。