一种半导体激光器的老化筛选测试系统及测试方法

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一种半导体激光器的老化筛选测试系统及测试方法
申请号:CN202510826124
申请日期:2025-06-19
公开号:CN120742045A
公开日期:2025-10-03
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种半导体激光器的老化筛选测试系统及测试方法,测试系统包括单片机、恒流源驱动单元、TEC温度控制单元、高低温环境箱、数据采集单元、工控机和显示单元;待测激光器安装于所述高低温环境箱内;所述单片机通过恒流源驱动单元和TEC温度控制单元与待测激光器相连;所述数据采集单元分别与单片机和待测激光器相连;所述工控机分别与所述数据采集单元、显示单元和待测激光器相连。本发明具有测试成本低、精度高、可靠性高、自动化程度高、测试效率高等优点。
技术关键词
老化筛选测试 数据采集单元 恒流源驱动 温度控制单元 半导体激光器 高低温环境箱 测试方法 工控机 单片机 基准电压 激光器芯片 光强度 老化系统 操作界面 光电 信号 电流 显示器
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