FPGA芯片老炼试验系统的试验方法

本发明公开了一种FPGA芯片老炼试验系统的试验方法，属于半导体芯片测试领域。包括通过配置接口可拔插连接的配置模块和集成电路测试载板，集成电路测试载板包括依次串联的多块FPGA芯片，配置接口的输入和输出引脚分别与第一块FPGA芯片的配置输入引脚以及最后一块FPGA芯片的配置输出引脚连接；配置模块包括主控系统、电源管理电路和配置接口电路，主控系统、配置接口电路和配置接口依次连接。配置时，系统上电并初始化IO；读取FPGA芯片的ID并判断读取的ID是否符合预期要求；若符合，则根据读取的ID计算链路长度，根据所述链路长度向对应的FPGA芯片写入配置数据。本发明极大的减少了人工操作，减少了配置时间和测试成本，减少了老炼试验测试过程中的干扰风险。