基于荧光光谱重叠度评估的抗生素污染自适应检测方法

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基于荧光光谱重叠度评估的抗生素污染自适应检测方法
申请号:CN202510827782
申请日期:2025-06-20
公开号:CN120929843A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
一种基于荧光光谱重叠度评估的抗生素污染自适应检测方法,首先对原始激发‑发射矩阵(EEM)数据进行去基线、扣除拉曼散射和内滤效应校正;随后,明确散射区域并评估其内荧光强度梯度、分布特征及光谱形状匹配度,量化获得重叠度指标,基于该重叠度指标,自适应选择并实施散射处理策略:对低重叠情况,采用插值法;对高重叠情况,则运用迭代拟合‑减除法或深度学习模型进行精细处理;最后,对处理后的EEM数据进行平滑和标准化,输出高质量的荧光指纹图谱,用于抗生素组分识别、定性与定量分析。本发明能够最大限度地保留有效抗生素荧光信息,并有效去除散射干扰,显著提高抗生素污染检测的准确性和可靠性。
技术关键词
抗生素 内滤效应 数据 深度学习模型 波长 拉曼散射光谱 分布特征 校正 指标 三次样条插值 基线 策略 荧光强度值 荧光光谱仪 插值法 指纹 中心线 定义
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