产品缺陷与测试用例的关联分析方法及装置

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产品缺陷与测试用例的关联分析方法及装置
申请号:CN202510828170
申请日期:2025-06-19
公开号:CN120353712B
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种产品缺陷与测试用例的关联分析方法及装置,涉及数据处理技术领域,包括:通过匹配测试用例和缺陷的功能模块和研发责任人,缩小相似性比对的用例范围,提高关联效率;使用Sentence‑BERT模型计算分析测试用例信息和缺陷信息的相似性,采用混合相似性计算规则,精确计算相似性,并可根据不同项目特点,动态调整特征权重,快速高效的完成缺陷与用例的智能关联,解决了相关技术中,过于依赖历史数据,且更新成本高,查询效率低下的技术问题,达到了无需依赖历史数据,使得新项目和新领域均可以快速地完成缺陷和用例的关联,且降低了维护成本,便于长期使用的技术效果。
技术关键词
关联分析方法 测试用例集 文本 语义向量 分层注意力 测试用例管理系统 分析测试用例 关联分析装置 BERT模型 可读存储介质 多尺度 存储计算机程序 数据处理技术 计算机程序产品 因子 新项目 误差 处理器 功能模块
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