模具加工精度控制方法、装置、设备和存储介质

AITNT
正文
推荐专利
模具加工精度控制方法、装置、设备和存储介质
申请号:CN202510828182
申请日期:2025-06-20
公开号:CN120370835B
公开日期:2025-09-09
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种模具加工精度控制方法、装置、设备和存储介质,包括:针对待加工部件所要加工的多个预设的特征面,获取公差和初始编程余量,各特征面的公差和/或初始编程余量不完全相同;在加工任一特征面的过程中,周期性检测特征面的状态偏差,当检测到状态偏差大于偏差阈值时,调用PID算法对当前编程余量进行补偿更新,状态偏差的值越大,针对当前编程余量的补偿量越大;对当前用于加工特征面的加工参数进行调整,并结合补偿后的当前编程余量与调整后的加工参数,继续加工特征面。本申请公开的模具加工精度控制方法、装置、设备和存储介质,解决了现有加工方式的加工精度无法得到保障的问题,使得有效地提高了特征面的加工精度的技术效果。
技术关键词
精度控制方法 编程 PID算法 偏差 模具 公差 参数 精度控制装置 周期性 强化学习算法 样本 处理器通信 模型库 可读存储介质 刀具 模块 存储器 应力 标识
系统为您推荐了相关专利信息
1
冲压金属管道截面智能分析与优化方法及系统
金属管道 冲压工艺 参数 有限元网格模型 传感器监测
2
一种大空间三维特征点自主光电测量系统及方法、电子设备和存储介质
激光跟踪仪 光电测量方法 Hessian矩阵 大空间 控制器
3
一种适用异步发射多弹协同攻击静止目标的比例导引律
导弹 多弹协同攻击 加速度 偏差 模型更新
4
一种智能桑叶饲料发酵装置的调节控制方法及系统
桑叶饲料 调节控制方法 发酵装置 酸碱 氧气检测装置
5
一种动态色偏补偿Demura方法、系统和显示屏
色彩 偏差 亮度 色偏 Demura系统
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号