一种芯片功耗测量系统及方法

本发明提出一种芯片功耗测量系统及方法，芯片功耗测量系统包括测试板、功耗采集模块以及控制模块，控制模块向待测芯片发送任务指令，任务指令包括电压指令、频率指令以及运行核指令中的任一种或多种；功耗采集模块在待测芯片执行任务指令时，采集各个测试电阻的电压信息，并将电压信息传输给控制模块；控制模块根据电压信息确定待测芯片的测试功耗。可以通过向待测芯片发送任务指令，改变待测芯片的工作频率、工作电压以及运行核数量中的任一种或多种，从而模拟不同的使用场景，在不同的场景下，完成待测芯片的功耗量测，准确快速地获取待测芯片的测试功耗。