芯片测试方法、装置、系统及半导体测试设备

本申请提供了一种芯片测试方法、装置、系统及半导体测试设备，涉及半导体测试领域。该方法包括：获取上位机发送的测试指令，并基于测试指令确定待测试的至少一个被测芯片；在半导体测试设备与各被测芯片之间建立相应的测试通道；基于已建立的对应于不同被测芯片的多个测试通道，根据测试指令对各被测芯片进行相应的图像功能测试；获取各被测芯片针对图像功能测试所发送的图像数据，并基于半导体测试设备为各被测芯片分配的芯片端口标识，将各被测芯片的图像数据并行传输至上位机。本申请解决了芯片测试的效率不高的问题。