一种采用截点法自动评定金属材料平均晶粒度的方法

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一种采用截点法自动评定金属材料平均晶粒度的方法
申请号:CN202510845876
申请日期:2025-06-24
公开号:CN120355714B
公开日期:2025-09-05
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种采用截点法自动评定金属材料平均晶粒度的方法,涉及金属材料金相图像分析领域,包括如下步骤:根据被测材料选择识别模型;输入光学显微镜图像pic至带有识别模型的系统中;利用掩膜提取和霍夫直线检测对输入图像pic提取标尺信息:先利用掩膜提取标尺区域,然后利用霍夫直线检测算法提取标尺长度,最后使用KNN分类器提取标尺数值;利用所选择的识别模型识别输入图像的晶界像素:利用UNet对输入的光学显微镜图像pic的每一个像素进行分类,判断其是否为晶界像素,最后进行优化,根据优化后的晶界图像进行截点法评级,统计单位长度截线数并计算晶粒度G。本发明显著提高了晶粒度评定的精度和一致性。
技术关键词
标尺 光学显微镜 直线 金属材料金相 掩膜 训练识别模型 编码器参数 线段 数值 分类器训练 深度学习算法 工业纯铁 高温合金 图像像素 图像分析
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