一种基于深度学习的基板缺陷检测系统与方法

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一种基于深度学习的基板缺陷检测系统与方法
申请号:CN202510860269
申请日期:2025-06-25
公开号:CN120707540A
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于深度学习的基板缺陷检测系统与方法,属于机器视觉技术领域,包括:相机检测控制单元,用于进行机器人的位置补偿运动或将检测结果反馈给上位机进行呈现;相机视觉引导单元,用于实时接收图像数据、传感器数据,并进行处理,将处理结果指令发送给协作机器人进行运动补偿;检测算法软件单元,用于与上位机软件平台获取相机拍摄所得的检测图片进行结果比对呈现。本发明可以实现高精度、高效率的自动化缺陷检测。
技术关键词
基板缺陷检测 检测控制单元 协作机器人 自动化缺陷检测 深度学习模型 图像增强功能 工业CCD相机 相机拍照 精确运动控制 控制模块 运动补偿 注意力机制 算法模型 PID控制算法 软件 视觉
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