摘要
本发明涉及缺陷检测技术领域,具体涉及一种罐体内部缺陷检测方法及系统,本发明通过分析检测光谱与基线光谱的差异性,精准量化检测光谱上每个波长处的偏离度;进而通过检测点与其他检测点的检测光谱之间的差异性,深入分析检测光谱的群体离散性;再根据检测光谱中任意波段与其他波段之间的差异性,细致评估检测光谱中每个波段的异常程度;并结合两个相邻检测点的检测光谱中存在交集的波段对的相关性,充分考虑波段对的异常重合程度;最终,识别出若干个目标波长段,结合在目标波长段内的纵向的表现特异情况,并分析其敏感程度,从而能够快速、精准地定位罐体内部缺陷,显著提升检测效率与可靠性。
技术关键词
内部缺陷检测方法
检测点
波长
内部缺陷检测系统
罐体
分析模块
基线
缺陷检测技术
皮尔逊相关系数
反射率差异
存储程序代码
数据采集模块
极值
存储器
处理器
识别模块
序列
特异
算法
系统为您推荐了相关专利信息
页面加载时间
检测点
页面白屏
显示信息
图像分析模型
荧光传感器
海洋赤潮
灾害预警方法
标志物
无人机
化合物半导体材料
高折射率材料层
芯片
宽带隙
泵浦
植物照明用LED光源
荧光胶层
红色荧光粉
红光芯片
绿色荧光粉