摘要
本发明涉及光学膜检测技术领域,提供了一种双面光学成像膜的检测装置及检测方法,包括获取双面光学成像膜的第一光学反射数据和第二光学反射数据并进行比对,得到全局反射差异数据并进行分析,得到光学反射性能数据和透射性能数据,将光学反射性能数据和透射性能数据输入预设的分析模型,输出光学性能评估报告。通过获取双面光学成像膜的第一光学反射数据和第二光学反射数据,并将其进行比对和统计分析,得到准确的全局反射差异数据,再通过预设的分析模型,输出光学性能评估报告,提供了更为全面和性能评估,适用于多种高精度光学设备的质量控制和性能分析,改善在高精度应用场景下,存在难以兼顾光学均匀性和反射特性的全面评估的问题。
技术关键词
光学成像
均匀性特征
数据
双面
偏差
支持向量机回归模型
DBSCAN算法
空间统计分析
指标
均值聚类算法
线性回归模型
高光谱成像技术
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参数
报告
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