一种基于电压毛刺的持续性故障分析方法

本申请适用于芯片测试技术领域，尤其涉及一种基于电压毛刺的持续性故障分析方法，该方法包括：通过获取样本芯片的离线数据，为后续确定电压毛刺参数簇提供基础数据。根据样本芯片的离线数据，确定样本芯片对应的电压毛刺参数簇，并基于电压毛刺参数簇控制毛刺注入设备对样本芯片在离线状态下进行电压毛刺注入，为后续故障数据采集提供前置条件。获取样本芯片的故障采集数据，采集芯片在模拟故障环境下运行时产生的异常数据，为进行持续性故障分析的提供核心依据。基于故障采集数据对样本芯片进行持续性故障分析，确定样本芯片的样本分析结果，提升故障分析效率、降低测试成本，提升测试结果的普适性。