一种银线缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质

本申请公开了一种银线缺陷检测方法及装置、电子设备、存储介质，该方法包括：配置目标检测环境；在目标检测环境下，获取待测产品的扫描图像；通过训练好的深度学习模型，基于扫描图像得到银线的缺陷图像，并识别得到缺陷图像中的待测缺陷数据；获取训练好的深度学习模型中预设的缺陷数据与缺陷检出结果之间的映射关系；基于缺陷图像、待测缺陷数据和映射关系得到目标缺陷检出结果，并基于缺陷图像、待测缺陷数据和目标缺陷检出结果得到针对待测产品的目标检测结果。这样，本申请消除了人眼检测导致的误差，极大地提升了检测的准确性和工作效率，同时可以保证不良的检出率，有效地提升了边缘银线良率。