高密度芯片封装结构及其制备方法

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高密度芯片封装结构及其制备方法
申请号:CN202510874277
申请日期:2025-06-27
公开号:CN120376433B
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
本发明提供的高密度芯片封装结构及其制备方法,涉及半导体技术领域,该高密度芯片封装结构包括第一衬底、第一芯片、第二芯片、第三芯片、芯片堆叠模组和塑封体,将第一散热柱设置在第一衬底上,第三芯片的背面设置在第一散热柱上,而第二芯片的正面还设置有第二散热柱。芯片堆叠模组堆叠设置在第二芯片和第三芯片上,且芯片堆叠模组的底侧设置有第一导电柱和第二导电柱。相较于现有技术,本发明通过预先在芯片堆叠模组上设计第一导电柱和第二导电柱,采用模块化封装,能够大幅提升堆叠密度和封装集成度。并且,第一散热柱和第二散热柱的设置,能够大幅提升整体结构的散热效果,并且提升塑封体与芯片之间的结合力,提升结构稳定性。
技术关键词
芯片封装结构 芯片堆叠 导电柱 高密度 散热柱 衬底 模组 正面 透明胶 光纤模块 布线 筒体 反射模块 胶膜 通道 外露 结合力
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