摘要
本发明提出一种高功率SOA外延结构、芯片及芯片的制备方法,所述外延结构从下到上依次包括衬底、N‑InP缓冲层、多层交替出现的InGaAsP高折层和N‑InP缓冲层、N‑InP层、InGaAsP SCH层、MQW层、InGaAsP SCH层、高掺杂P‑InP层、InGaAs欧姆接触层;所述多层交替出现的InGaAsP高折层和N‑InP缓冲层中,相邻的两层InGaAsP高折层之间设置有N‑InP缓冲层。本专利的高功率SOA芯片通过设计低光场限制因子的外延结构,结合BH波导结构,显著提升饱和输出功率。
技术关键词
外延结构
高功率
异质结结构
缓冲层
欧姆接触层
芯片
掩模
PNP结构
衬底
金属沉积
波导结构
增透膜
电镀
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因子
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