基于YOLO算法的大深径比微孔参数的光学无损测量装置

本发明属于光学测量与图像处理技术领域，具体的说是基于YOLO算法的大深径比微孔参数的光学无损测量装置，包括工作台，所述工作台的顶端固接有丝拉杆升降台；所述丝拉杆升降台的一侧连接有载物台；所述载物台的顶端设置有电子光学显微镜；所述电子光学显微镜的顶端设置有CMOS图像传感器；所述工作台的一侧设置有上位机；所述工作台的顶端一侧设置有驱动器；所述驱动器的一侧设置有电机；通过采用基于YOLOv8的深度学习模型进行微孔直径识别，显著提升了在复杂背景和模糊边缘下的识别准确率；通过高精度的电机控制和精确的焦面定位方法，保证了深度测量的精度。