自动测试系统

本申请涉及芯片领域，具体公开了一种自动测试系统，自动测试系统包括机台，机台上设置有上料装置、送料装置以及测试装置；上料装置用于存放多个测试硬盘，送料装置用于将上料装置上的多个测试硬盘运送至测试装置；测试装置包括第一测试组件和第二测试组件，第一测试组件用于放置多个测试硬盘，第二测试组件相对于第一测试组件可移动，当多个测试硬盘放置在第一测试组件上，第二测试组件相对于第一测试组件移动至第一位置，第一测试组件和第二测试组件将多个测试硬盘的引脚夹持，并对多个测试硬盘进行测试。本申请通过以上方式，改善由于硬盘插拔测试时导致出现的测试效率低下的问题。