一种红外光谱法测定胶料中二氧化硅含量的方法及系统

本发明提供一种红外光谱法测定胶料中二氧化硅含量的方法及系统，涉及二氧化硅含量测定技术领域，包括：选取多个二氧化硅含量不同的胶料作为标准样品；通过傅里叶红外光谱仪在4000 cm‑1~600 cm‑1波数范围内，采用Ge晶体ATR全反射法采集各标准样品的平均红外光谱；从所得各标准样品的平均红外光谱中获取Si‑O‑Si反对称伸缩振动峰区域的吸光度A1095和Si‑O对称伸缩振动峰区域的吸光度A800，计算得到归一化参数；通过化学消解法测定各标准样品的二氧化硅实际含量；二氧化硅实际含量为横坐标，归一化参数为纵坐标，得到线性回归的二氧化硅含量预测模型。该方法适用于大多数二氧化硅含量低于30%的样品，且具有非接触式检测、效率高、测定精度较高的特点。