一种自动化生产芯片的温度测试装置

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一种自动化生产芯片的温度测试装置
申请号:CN202510942901
申请日期:2025-07-09
公开号:CN120629893A
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种自动化生产芯片的温度测试装置,包括机体,所述机体的顶端中部设置有机械臂,所述机械臂的左侧设置有夹持装置,所述夹持装置用于固定线路板样体,所述机械臂用于对外部待测试的芯片进行转移。本发明通过固定机构、万用表接地机构、万用表接引脚机构和温度调节机构的配合使用,先通过芯片能否进行首次烧录来判定生产的芯片是否故障,若能则对芯片进行高低温测试,芯片又可以分为两种,一种是无法重复烧录,另一种是可重复烧录,对于两种不同的芯片采取不同的测试方式来判定该种芯片是否在高低温冲击下发生了损坏,从而提高了装置的适用性,全程自动化操作,方便快捷,满足了工作人员的需求。
技术关键词
温度测试装置 万用表 温度调节机构 活动板 接地机构 芯片 丝杆 夹持装置 导杆 活动块 筒体 升降件 机械臂 推杆 机体 输出端 安装框 线路板 安装件 电机
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