一种电子产品性能智能测试系统

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一种电子产品性能智能测试系统
申请号:CN202510944162
申请日期:2025-07-09
公开号:CN120873948A
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种电子产品性能智能测试系统。该电子产品性能智能测试系统包括:增强型数字孪生与多物理场建模系统、多模态感知融合与智能测试规划引擎、深度故障诊断与预测性健康管理反馈优化模块和综合优化目标函数框架,能够实现测试效率、测试覆盖度、故障早期预警能力和产品可靠性综合提升的智能化、一体化测试与评估体系。
技术关键词
智能测试系统 数字孪生模型 噪声鲁棒性 产品全生命周期 混合预测模型 建模系统 多源异构数据 剩余使用寿命预测 物理测试设备 综合效能 识别电子产品 辨识模块 深度强化学习算法 性能退化规律 测试环境参数 虚拟仿真环境
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