压敏电阻测量应力时消除偏置信号的方法及CMOS芯片

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压敏电阻测量应力时消除偏置信号的方法及CMOS芯片
申请号:CN202510962591
申请日期:2025-07-14
公开号:CN120489396A
公开日期:2025-08-15
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种压敏电阻测量应力时消除偏置信号的方法及CMOS芯片,属于信号处理领域。本发明将惠斯通电桥电路中至少一个压阻式元件为可调电阻;若压敏电阻测量应力时产生偏置信号,通过调节惠斯通电桥电路中的可调电阻,消除因各种情况产生的偏置信号,这样压敏芯片在正常使用时外接微伏级的电源电压和小量程电终端即可满足测量要求,提高了测量精度,使用微伏级的电源电压也大幅降低了压敏芯片的功耗。
技术关键词
惠斯通电桥电路 压敏电阻 可调电阻 压敏芯片 压阻式 四边形结构 校正结构 应力 元件 MOS开关 信号处理 电桥结构 电压
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