一种多沟道氮化镓单片集成半桥芯片及制作方法

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一种多沟道氮化镓单片集成半桥芯片及制作方法
申请号:CN202510964401
申请日期:2025-07-14
公开号:CN120857602A
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种多沟道氮化镓单片集成半桥芯片及制造方法,基于P型低掺硅基衬底层(1)与N型低掺硅基体区(2)形成PN结,以高阻区结构(9)划分低侧功率区与高侧功率区,分别由底部向上依次堆叠设置铝氮成核层(3)、至少两组氮化镓结构组、以及P型氮化镓栅帽层(7)与T型金属栅电极(8),再结合低侧第一金属源电极(11)、低侧第二金属源电极(12)、低侧金属漏电极(13)、高侧第一金属源电极(14)、高侧第二金属源电极(15)、高侧金属漏电极(16)所构建的混合电极,实现所设计半桥芯片,具有低反向导通损耗、高工作频率、以及高反向续流能力的性能优势。
技术关键词
氮化镓结构 集成半桥 多沟道 势垒层 电极 功率 衬底层 单片 缓冲层 肖特基 反向续流能力 离子注入方式 基体 半桥芯片 PN结 电子束 外延 导电
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