摘要
本发明涉及一种多沟道氮化镓单片集成半桥芯片及制造方法,基于P型低掺硅基衬底层(1)与N型低掺硅基体区(2)形成PN结,以高阻区结构(9)划分低侧功率区与高侧功率区,分别由底部向上依次堆叠设置铝氮成核层(3)、至少两组氮化镓结构组、以及P型氮化镓栅帽层(7)与T型金属栅电极(8),再结合低侧第一金属源电极(11)、低侧第二金属源电极(12)、低侧金属漏电极(13)、高侧第一金属源电极(14)、高侧第二金属源电极(15)、高侧金属漏电极(16)所构建的混合电极,实现所设计半桥芯片,具有低反向导通损耗、高工作频率、以及高反向续流能力的性能优势。
技术关键词
氮化镓结构
集成半桥
多沟道
势垒层
电极
功率
衬底层
单片
缓冲层
肖特基
反向续流能力
离子注入方式
基体
半桥芯片
PN结
电子束
外延
导电
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