带测试电路的异步复位状态可控的低功耗触发器电路结构

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种带测试电路的异步复位状态可控的低功耗触发器电路结构，包括第一选择器、第二选择器、第一触发器、第二触发器、复位控制门、置位控制门和非门，其中，第一选择器的第一输入端口用于接收第一测试复位信号，第一选择器的第二输入端口用于接收第一功能复位信号，第一选择器的使能端口用于接收测试使能信号；第二选择器的第一输入端口用于接收第二测试复位信号，所述第二测试复位信号由测试机台控制，第二选择器的第二输入端口用于接收第二功能复位信号，第二选择器的使能端口用于接收测试使能信号。本发明能够根据应用需求控制触发器的异步复位状态，且能实现对异步复位状态可控的触发器电路结构的测试。