基于DWT实现寄存器覆盖率统计的方法及装置

本发明公开一种基于DWT实现寄存器覆盖率统计的方法，包括：配置DWT实时监控模块寄存器的写操作，并使能DebugMon中断；在执行模块测试用例进行功能验证时，对模块寄存器的写操作进行监控，并在监控到模块寄存器的写操作时，触发DebugMon中断；进入中断服务函数，统计寄存器0→1、1→0的比特翻转情况；测试用例执行完毕后，输出当前模块的覆盖率统计报告。本发明适用于FPGA原型验证和芯片回片验证阶段的寄存器覆盖率统计，通过寄存器覆盖率统计，反映测试用例的验证充分性，帮助验证人员发现验证盲点，并优化测试用例。