一种晶体调制实验的半波电压自动检测装置方法

本发明公开了一种晶体调制实验的半波电压自动检测装置方法，具体涉及光电测量技术领域，包括：可调谐激光源(560‑750nm波长可调)、晶体调制模块(高压直流电源与信号源)、集成检测模块(水平旋转支架集成功率计与光电转换器)及控制模块(双数据采集卡+Python程序)。其功能实现方式为：通过旋转支架切换检测单元(对准精度≤0.1mm)，自动执行极值法(滑动平均拟合U‑P曲线提取极值点)与倍频法(频谱分析捕捉倍频失真点)同步测量；结合多波长扫描生成λ‑Uπ关系曲线，并与理论公式Uπ＝λd/(2n03γ22L)对比分析。本发明消除人工干预与光路拆卸误差，实现全流程闭环控制，为电光调制器件参数优化提供高精度数据支持。