一种芯片测试方法及装置、电子设备、存储介质

本发明实施例公开一种芯片测试方法及装置、电子设备、存储介质，涉及集成电路技术领域，能够有效节约测试资源，降低测试成本。该方法包括：获取各测试机管脚的向量内存对应的使用许可文件，得到第一许可文件，第一许可文件许可使用的向量内存为第一内存；将第一测试程序加载到第一内存中，其中，第一测试程序包括待测芯片的各目标管脚的测试向量，每个所述目标管脚用于与一个对应的测试机管脚电连接；根据各目标管脚的测试向量在第一内存中的分布情况，对第一许可文件进行调整，得到第二许可文件，所述第二许可文件许可使用的向量内存为第二内存，所述第二内存小于所述第一内存；基于所述第二许可文件测试所述待测芯片。本发明适用于芯片测试中。