一种基于正弦相位调制干涉技术的波长测量方法及系统

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一种基于正弦相位调制干涉技术的波长测量方法及系统
申请号:CN202510990675
申请日期:2025-07-18
公开号:CN121007642A
公开日期:2025-11-25
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种基于正弦相位调制干涉技术的波长测量方法及系统,涉及波长测量技术领域,方法包括:获取待测波长激光源和已知波长的参考激光源,并引入至改进型迈克尔逊干涉仪,生成第一参考干涉信号和第一测量干涉信号;分别对第一参考干涉信号和第一测量干涉信号进行相位调制,得到包含高频相位载波的第二参考干涉信号和第二测量干涉信号,并通过改进PGC‑Arctan解调算法,提取参考干涉信号相位和测量干涉信号相位;对参考干涉信号相位和测量干涉信号相位进行快速傅里叶变换,确定参考干涉信号和测量干涉信号幅值;根据参考干涉信号幅值、测量干涉信号幅值以及参考激光源的已知波长,计算待测波长激光源的波长。
技术关键词
正弦相位调制 波长测量方法 偏振分束器 干涉技术 改进型迈克尔逊干涉仪 信号 电光调制器 光电探测器 激光源 反射镜 偏振片 载波 李萨如图 待测激光 幅值 解调算法 滤光片 位移台
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